Now showing items 1-1 of 1

  • Pandey, S.; Krause, E.; Derose, J.; Maccrann, N.; Jain, B.; Crocce, M.; Blazek, J.; Choi, A.; Huang, H.; To, C.; Fang, X.; Elvin-Poole, J.; Prat, J.; Porredon, A.; Secco, L.F.; Rodriguez-Monroy, M.; Weaverdyck, N.; Park, Y.; Raveri, M.; Rozo, E.; Rykoff, E.S.; Bernstein, G.M.; Sánchez, C.; Jarvis, M.; Troxel, M.A.; Zacharegkas, G.; Chang, C.; Alarcon, A.; Alves, O.; Amon, A.; Andrade-Oliveira, F.; Baxter, E.; Bechtol, K.; Becker, M.R.; Camacho, H.; Campos, A.; Carnero Rosell, Rosell; Carrasco Kind, Kind; Cawthon, R.; Chen, R.; Chintalapati, P.; Davis, C.; Di Valentino, Valentino; Diehl, H.T.; Dodelson, S.; Doux, C.; Drlica-Wagner, A.; Eckert, K.; Eifler, T.F.; Elsner, F.; Everett, S.; Farahi, A.; Ferté, A.; Fosalba, P.; Friedrich, O.; Gatti, M.; Giannini, G.; Gruen, D.; Gruendl, R.A.; Harrison, I.; Hartley, W.G.; Huff, E.M.; Huterer, D.; Kovacs, A.; Leget, P.F.; McCullough, J.; Muir, J.; Myles, J.; Navarro-Alsina, A.; Omori, Y.; Rollins, R.P.; Roodman, A.; Rosenfeld, R.; Sevilla-Noarbe, I.; Sheldon, E.; Shin, T.; Troja, A.; Tutusaus, I.; Varga, T.N.; Wechsler, R.H.; Yanny, B.; Yin, B.; Zhang, Y.; Zuntz, Joseph; Abbott, T.M.C.; Aguena, M.; Allam, S.; Annis, J.; Bacon, D.; Bertin, E.; Brooks, D.; Burke, D.L.; Carretero, J.; Conselice, C.; Costanzi, M.; Da Costa, Costa; Pereira, M.E.S.; De Vicente, Vicente; Dietrich, J.P.; Doel, P.; Evrard, A.E.; Ferrero, Ismael; Flaugher, B.; Frieman, J.; García-Bellido, J.; Gaztanaga, E.; Gerdes, D.W.; Giannantonio, T.; Gschwend, J.; Gutierrez, G.; Hinton, S.R.; Hollowood, D.L.; Honscheid, K.; James, D.J.; Jeltema, T.; Kuehn, K.; Kuropatkin, N.; Lahav, O.; Lima, M.; Lin, H.; Maia, M.A.G.; Marshall, J.L.; Melchior, P.; Menanteau, F.; Miller, C.J.; Miquel, R.; Mohr, J.J.; Morgan, R.; Palmese, A.; Paz-Chinchón, F.; Petravick, D.; Pieres, A.; Plazas Malagón, Malagon; Sanchez, E.; Scarpine, V.; Serrano, S.; Smith, M.; Soares-Santos, M.; Suchyta, E.; Tarle, G.; Thomas, D.; Weller, J. (Journal article / Tidsskriftartikkel / PublishedVersion; Peer reviewed, 2022)
    We constrain cosmological parameters and galaxy-bias parameters using the combination of galaxy clustering and galaxy-galaxy lensing measurements from the Dark Energy Survey (DES) year-3 data. We describe our modeling ...