Imaging defect complexes in scanning transmission electron microscopy: Impact of depth, structural relaxation, and temperature investigated by simulations
Journal article; PublishedVersion; Peer reviewed
År
2020Permanent lenke
http://urn.nb.no/CRIStin
1749627Metadata
Vis metadataFinnes i følgende samling
- Fysisk institutt [3659]
- Det matematisk-naturvitenskapelige fakultet [830]
- CRIStin høstingsarkiv [31162]